波蘭Pro-Project X射線斷層掃描設(shè)備
一套專用于X射線斷層掃描設(shè)備測量的簡單工具。可用于層高調(diào)整和斷層掃描運(yùn)動(dòng)測試。
波蘭Pro-Project X射線斷層掃描設(shè)備特點(diǎn)
符合:
– IEC 61223-3-1
CE認(rèn)證
該手冊(cè)提供了進(jìn)行每項(xiàng)測試、結(jié)果評(píng)估和注冊(cè)的詳細(xì)指南
波蘭Pro-Project X射線斷層掃描設(shè)備規(guī)格
160 毫米直尺由 PMMA 制成,刻有詳細(xì)的 X 射線不透明刻度
尺子可以折疊成非常緊湊的尺寸,方便運(yùn)輸
帶孔的不銹鋼臺(tái)階,用于顯示斷層掃描運(yùn)動(dòng)